Bruker 公司的Anasys nanoIR3型納米紅外光譜測量系統(tǒng)，是一款基于原子力顯微鏡（AFM）的納米表征工具。其采用光熱誘導(dǎo)共振技術(shù)（PTIR，也稱AFM-IR），使紅外光譜的空間分辨率突破了光學(xué)衍射極限，提高至10納米級別。為揭示納米尺度下的表界面紅外光譜信息提供了可能。該技術(shù)曾榮獲2010年度美國R&D100大獎(jiǎng)。

下面是nanoIR3的技術(shù)優(yōu)勢：

1. 10nm高化學(xué)解析分辨率，揭示微區(qū)化學(xué)組分

• 準(zhǔn)確的微區(qū)化學(xué)表征：基于光熱誘導(dǎo)效應(yīng)PTIR原理，與FTIR光譜吻合，沒有吸收峰的任何偏移；

• 快光譜采集：光譜采集速度：<3s/光譜，光譜分辨率:   <1 cm-1；

• AFM成像速度一致的快速化學(xué)成像，全自動光路優(yōu)化，避免實(shí)驗(yàn)困惱；

• 二維可視化光斑追蹤，保證佳信號；

• 全自動軟件控制入射光束準(zhǔn)直技術(shù)修正激光的偏移，動態(tài)能量調(diào)整，確保信號的準(zhǔn)確性；

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嵌段共聚物P2VP&PS的AFM-IR光譜和紅外成像

2. 寬中紅外激光，實(shí)現(xiàn)O-H, N-H, C-H等官能團(tuán)的表征

• 寬中紅外激光：800-3600 cm-1；

• 多種光源可選，可集成THz，同步輻射光源，可見光，近紅外，自由電子激光器等；

• 3.支持全系列掃描探針顯微鏡模式。

• Contact Mode（接觸模式）

• Tapping Mode（輕敲模式）

• Lateral Force Microscope（橫向力/摩擦力顯微鏡）

• Phase Imaging（相位成像）

• Magnetic Force Microscopy (磁力顯微鏡)

• Electrostatic Force Microscopy (靜電力顯微鏡)

• Conductive Atomic Force Microscopy (導(dǎo)電原子力顯微鏡)

• Kelvin Probe Force Microscopy (開爾文探針力顯微鏡)

• Force Curve Spectroscopy（力曲線）

• Liquid Imaging（液態(tài)環(huán)境掃描）

• Heater-Cooler Imaging（高低溫環(huán)境掃描）

• SThM（掃描熱顯微鏡）

• Nano-TA（納米熱分析）

• LCR（洛倫茲納米力學(xué)分析）

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