簡(jiǎn)要描述:Bruker Dimension® Icon™ 原子力顯微鏡為工業(yè)界和科研界納米領(lǐng)域的研究者帶來了全新的應(yīng)用體驗(yàn),具有高水平的性能、功能和配件選擇, 其測(cè)試功能強(qiáng)大,操作簡(jiǎn)便易行。齊集 Dimension系統(tǒng)數(shù)十年的技術(shù)經(jīng)驗(yàn),廣大客戶反饋,結(jié)合工業(yè)領(lǐng)域的設(shè)備需求, Dimension Icon進(jìn)行了全面革新。全新的系統(tǒng)設(shè)計(jì),實(shí)現(xiàn)了低漂移和低噪音水平?,F(xiàn)在,用戶只需要幾分鐘就可獲得真
產(chǎn)品目錄
品牌 | Bruker/布魯克 | 儀器種類 | 原子力顯微鏡 |
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定位檢測(cè)噪聲 | 低于30pm | 價(jià)格區(qū)間 | 100萬-150萬 |
產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,生物產(chǎn)業(yè),石油,電子 |
熱漂移速率 | 低于200pm/分鐘 | 掃描范圍 | 90?微米 |
隔音體系 | 可工作在高達(dá)85dBC連續(xù)噪音環(huán)境中 | X-Y方向掃描范圍 | 90μ?x?90μmm(典型值),85μm(最小值) |
Z方向掃描范圍 | 10μm(典型值),9.5μm(最小值) | 縱向噪音水平 | <30pm?RMS?值 |
Bruker布魯克原子力顯微鏡Dimension Icon為工業(yè)界和科研界納米領(lǐng)域的研究者帶來了全新的應(yīng)用體驗(yàn),具有高水平的性能、功能和配件選擇, 其測(cè)試功能強(qiáng)大,操作簡(jiǎn)便易行。齊集 Dimension系統(tǒng)數(shù)十年的技術(shù)經(jīng)驗(yàn),廣大客戶反饋,結(jié)合工業(yè)領(lǐng)域的設(shè)備需求, Dimension Icon進(jìn)行了全面革新。全新的系統(tǒng)設(shè)計(jì),實(shí)現(xiàn)了低漂移和低噪音水平?,F(xiàn)在,用戶只需要幾分鐘就可獲得真實(shí)準(zhǔn)確的掃描圖像。
Bruker布魯克原子力顯微鏡Dimension Icon 提供對(duì)性能沒有任何影響的靈活性平臺(tái), 一個(gè)平臺(tái),無限可能:
開放的平臺(tái),能整合其他技術(shù)
開放的軟件和硬件,能輕松定制您的研究應(yīng)用 - "如果它不存在, 就發(fā)明它"
電池、有機(jī)太陽能等研究的完整解決方案
快速精確,性能優(yōu)的AFM
傳感器設(shè)計(jì)有閉環(huán)的精度和開環(huán)的噪音水平
顯著地降低噪音和漂移,在大樣品臺(tái)AFM上實(shí)現(xiàn)了小樣品臺(tái)AFM的成像性能
顯微鏡和電路的設(shè)計(jì)保證了高成像性能和價(jià)格適中
操作簡(jiǎn)便
Dimension Edge的大樣品臺(tái)不僅馬達(dá)驅(qū)動(dòng)、可編程控制、自動(dòng)多區(qū)域測(cè)量的特性,還可以將各種類型和尺寸的樣品,直接放置在AFM掃描器下進(jìn)行檢測(cè),大大節(jié)省制樣時(shí)間。
使用Dimension Edge AFM從接觸圖形界面開始,通過可視狀態(tài)反饋,選擇操作模式到使用活動(dòng)窗口的相關(guān)幫助,都伴隨有線性程序設(shè)置的邏輯化工作流程。
選擇Dimension Edge平臺(tái)作為您的研究工具,樣品的檢測(cè)結(jié)果,工作效率,都將超乎您的想象。
實(shí)現(xiàn)全部測(cè)試需求
開放式平臺(tái)設(shè)計(jì)可適應(yīng)各種實(shí)驗(yàn)和樣品的需求
新儀器的設(shè)計(jì)和軟件利用了完備的Bruke AFM掃描模式和檢測(cè)技術(shù),滿足前沿的應(yīng)用需求
內(nèi)置的信號(hào)路由模塊,幫助研究者根據(jù)新的研究方向和實(shí)驗(yàn)需求,自定義檢測(cè)模式
技術(shù)參數(shù)
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