簡要描述:Bruker布魯克納米壓痕儀劃痕儀PI 89利用掃描電子顯微鏡(SEM、FIB/SEM)的成像能力,可以在成像的同時進行定量納米力學(xué)測試。這套全新系統(tǒng)搭載 Bruker 電容傳感技術(shù),繼承了商業(yè)化原位 SEM 納米力學(xué)平臺的優(yōu)良功能。該系統(tǒng)可實現(xiàn)包括納米壓痕、拉伸、微柱壓縮、微球壓縮、懸臂彎曲、斷裂、疲勞、動態(tài)測試和力學(xué)性能成像等功能。
產(chǎn)品目錄
品牌 | Bruker/布魯克 | 價格區(qū)間 | 100萬-150萬 |
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產(chǎn)地類別 | 進口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,生物產(chǎn)業(yè),石油,地礦,綜合 |
樣品定位范圍 | 12 mm x 26 mm x 29 mm (壓痕軸) | 樣品定位靈敏度 | 1 nm (編碼) |
系統(tǒng)基本重量 | 480g |
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